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Los espectros XPS se cuantifican, en su mayor parte, en términos de intensidades y posiciones de los picos. Las intensidades máximas miden la cantidad de material que hay en la superficie, mientras que las posiciones máximas indican la composición elemental y química.

¿Cuál es el trasfondo de Shirley?

En general, se utilizan tres tipos de fondos: 1) una línea recta simple o un fondo lineal, 2) el fondo Shirley en el que la intensidad del fondo en cualquier energía de enlace dada es proporcional a la intensidad del área máxima total sobre el fondo en el rango de pico de energía de enlace más bajo[1] (es decir, el…

¿Cómo encuentras el porcentaje atómico de XPS?

Primero divida por el flujo de rayos X si ha usado diferentes energías de rayos X para diferentes espectros (más rayos X darán picos XPS de mayor intensidad). Luego divida por la sección transversal de fotoionización para el nivel central que está viendo.

¿Qué puede decirnos XPS sobre una muestra?

La espectroscopia de fotoelectrones de rayos X (XPS), también conocida como espectroscopia de electrones para análisis químico (ESCA), es una técnica para analizar la química superficial de un material. XPS puede medir la composición elemental, la fórmula empírica, el estado químico y el estado electrónico de los elementos dentro de un material.

¿Qué es FWHM en XPS?

Full Width at Half Maximum (FWHM) es el ancho total de un pico (pico espectroscópico) medido a la mitad de su altura máxima. Básicamente, el FWHM de un pico XPS (ΔE) se puede calcular mediante la ecuación: ΔE2 = ΔE2peak + ΔE2instrum.

¿Cómo se hace un análisis XPS?

El análisis En pocas palabras, XPS utiliza un haz de rayos X para excitar átomos en la superficie de una muestra sólida, lo que estimula la liberación de fotoelectrones. A partir de ahí, se mide la energía cinética y el número de electrones que escapan por la parte superior de 0 a 10 nanómetros de la muestra.

¿Cómo se calcula la relación en XPS?

Cada área se corrige dividiéndola por la sección transversal, de modo que la relación atómica sea igual a (O(área)/Li(área))*(Li(sección transversal)/O(sección transversal)). Si este número está cerca de 0.5, probablemente esté viendo Li2O, y si está cerca de 1, entonces tiene Li2O2 o LiOH (tenga en cuenta que no puede detectar H con XPS).

¿Qué es la energía de paso en XPS?

Los campos electrostáticos dentro del analizador hemisférico (HSA) se establecen para permitir que solo los electrones de una energía determinada (la llamada energía de paso PE) lleguen a las rendijas del detector y a los detectores mismos. Figura 1: Diseño lógico para un instrumento XPS.

¿Cuál es la diferencia entre XRD y XPS?

XRD examina la cristalinidad de una muestra. Le indica la(s) estructura(s) cristalina(s) de su muestra, así como el grupo espacial, los parámetros de la red, la orientación preferida y el tamaño del cristalito. XPS examina la composición elemental de una muestra.

¿Cuál es el principio básico de XPS?

Principio de fotoemisión: cuando un rayo X (flecha roja) bombardea una muestra (izquierda), algunos electrones (esferas amarillas) se excitan lo suficiente como para escapar del átomo (derecha). XPS se lleva a cabo en condiciones de ultra alto vacío (UHV), alrededor de 10-9 milibares (mbar).

¿Es XPS destructivo?

XPS es una técnica no destructiva para medir la química superficial de materiales sólidos, en particular la composición química y el estado electrónico.

¿Puede XPS detectar helio?

El hidrógeno y el helio son esencialmente imposibles de detectar con un XPS de laboratorio. El helio normalmente no está presente como sólido e incluso cuando está presente (implantado) en un sólido, su orbital 1s tiene una sección transversal muy pequeña para la fotoemisión.

¿Cuánta muestra necesita para XPS?

Pida consejo al oficial experimental si es necesario. Las muestras típicas para XPS tienen un tamaño de 0,5 a 1 cm2 y un grosor de hasta 4 mm. También se pueden acomodar muestras más gruesas; contáctenos para obtener más detalles.

¿Qué es la técnica XPS?

La espectroscopia de fotoelectrones de rayos X (XPS) o espectroscopia de electrones para análisis químico (ESCA) es una técnica que analiza los elementos que constituyen la superficie de la muestra, su composición y el estado de enlace químico irradiando rayos X en la superficie de la muestra y midiendo la cinética energía de los fotoelectrones emitidos…

¿Por qué usamos XPS?

La espectroscopia de fotoelectrones de rayos X (XPS), también conocida como espectroscopia de electrones para análisis químico (ESCA), es la técnica de análisis de superficies más utilizada porque se puede aplicar a una amplia gama de materiales y proporciona valiosa información cuantitativa y del estado químico de la superficie de siendo el material…

¿Cuál es el uso de XPS?

XPS se utiliza habitualmente para analizar compuestos inorgánicos, aleaciones metálicas, semiconductores, polímeros, elementos, catalizadores, vidrios, cerámicas, pinturas, papeles, tintas, maderas, partes de plantas, maquillaje, dientes, huesos, implantes médicos, biomateriales, recubrimientos, aceites viscosos, pegamentos, materiales modificados con iones y muchos otros.

¿Cuál es la profundidad máxima de XPS?

XPS normalmente sondea a una profundidad de 10 nm. Sin embargo, debido a que XPS es una técnica de ultra alto vacío, primero se debe evacuar la muestra que se va a analizar. XPS ha encontrado un amplio uso en la investigación de superficies textiles, y este uso ahora se está extendiendo al estudio de textiles tratados con plasma.

¿Por qué cambian los picos de XPS?

La intensidad de sus picos cambia principalmente por dos razones: en primer lugar, la intensidad está directamente relacionada con la cantidad de átomos con el estado de oxidación respectivo. Una segunda causa de un cambio de intensidad pueden ser los procesos de difusión, porque la intensidad depende también de la distribución de profundidad de sus átomos.

¿Qué es el desplazamiento químico en XPS?

Desplazamiento químico: cambio en la energía de enlace de un electrón central de un elemento debido a un cambio en el enlace químico de ese elemento.

¿Cómo se realiza el perfilado de profundidad?

La elaboración de perfiles de profundidad es un proceso en el que el elemento o el contenido químico de una muestra se mide en función de la profundidad. Otras técnicas de perfilado de profundidad utilizan pulsos de luz láser, haces de plasma, descarga luminiscente o manipulación confocal de la muestra en el eje Z.

¿Se pueden realizar perfiles de profundidad con EDS?

Sí, estoy de acuerdo con Mishima y otras personas sobre el efecto de volumen de interacción de EDS. Para el análisis de superficie, puede probar AES (perfilado de profundidad) con la herramienta Auger.

¿Qué es el perfilado de profundidad Auger?

En el perfilado de profundidad Auger, la muestra se bombardea con iones y la superficie recién creada se analiza mediante espectroscopía de electrones Auger (AES). La pulverización iónica, además de eliminar átomos de la superficie al azar, introduce varios tipos de defectos en la región de la superficie de una muestra estudiada.

¿Qué técnica se puede utilizar para comprender el perfil de profundidad de la superficie de un sustrato?

El perfilado de profundidad es posible mediante pulverización iónica. A diferencia de la técnica analítica de superficie más popular, la espectroscopia de electrones Auger (AES), se puede investigar el material no conductor, se produce un daño material débil y los cambios químicos son más fáciles de interpretar.

¿Qué es el perfilado de profundidad en XPS?

El perfilado monoatómico de profundidad utiliza un haz de iones para grabar capas de la superficie o la contaminación de la superficie, revelando información del subsuelo. La combinación de una secuencia de ciclos de grabado con pistola de iones con análisis XPS proporciona información cuantificada, así como espesores de capa.

¿Cómo funciona la espectroscopia electrónica Auger?

La espectroscopia de electrones Auger (AES) es una técnica analítica específica de la superficie que utiliza un haz de electrones finamente enfocado y de alta energía como fuente de excitación. Los electrones Auger se producen cuando los átomos excitados liberan la energía adicional a un electrón que luego se emite como un electrón Auger.

¿Qué es el desplazamiento químico en Esca?

El cambio químico en el espectro ESCA, o de manera equivalente en los espectros de rayos X, es causado por cambios en las energías de enlace de los electrones. De esta manera, la relajación de los electrones se tiene en cuenta en un grado considerable.